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高低溫濕熱低氣壓試驗箱主要規(guī)格和技術(shù)參數(shù):
型號 | SE-DQ500 | SE-DQ1000 | SE-DQ2000 | |
工作室尺寸 (W×D×H)cm | 80×70×90 | 100×100×100 | 120×120×150 | |
外形尺寸 (W×D×H)cm | 150×275×190 | 140×325×200 | 180×370×230 | |
調(diào)溫方式 | 平衡調(diào)溫方式(BTC方式) | |||
性 能
| 溫度范圍 | -70℃~150℃ | ||
溫度波動度 | ≤1.0℃(常壓空載) | |||
溫度均勻度 | ≤2.0℃(常壓空載) | |||
溫度偏差 | ±2.0℃(常壓空載) | |||
升降溫速率 | 升溫(20~+150℃)≤50min 降溫(20~-60℃)1.0℃/min | |||
濕度范圍 | 20~98%RH | |||
濕度偏差 | ±3%RH(常壓空載) | |||
壓力范圍 | 常壓~0.5 kPa | |||
壓力精度 | ±2KPa(常壓~40KPa時);±5%(40KPa~4KPa時); ±0.1KPa(4KPa~1KPa時) | |||
降壓速率 | ≤45min(常壓→1KPa) | |||
快速降壓 | 降壓范圍:75.2Kpa-18.8 Kpa;降壓時間:15秒 | |||
制冷機 | 半封閉壓縮機 | |||
冷卻方式 | 水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.1~0.3Mpa),以便確保降溫性能 | |||
抽真空方式 | 機械旋片式真空泵 | |||
加熱器 | 陶瓷架構(gòu)鎳鉻電熱絲/防爆型鎧裝電熱管 | |||
觀察窗 | 觀察窗鍍膜中空玻璃 | |||
控制器 | 中文彩色觸摸屏+ PLC控制器(控制軟件自行開發(fā)) |
電子產(chǎn)品主要組成模組包括CPU、RAM、ROM、時鐘、AC/DC電源、PCB、外圍電路器件電容/電阻/電感、結(jié)構(gòu)件。海拔高度發(fā)生變化,溫度、濕度、空氣密度、大氣壓強也隨之變化,那么海拔的變化對電子產(chǎn)品會產(chǎn)生怎樣的影響呢?
查看下述兩個表數(shù)據(jù),海拔每升高1km,相對大氣壓力約降低12%,空氣密度約降低10%,絕對濕度隨之降低,Zui高溫度降低5 ℃,平均溫度降低5 ℃。那我們可以從大氣壓強、濕度、溫度三個維度評估海拔升高對電子產(chǎn)品工作狀態(tài)、抗擾度、生命周期等要素的影響。
1、環(huán)溫下降對機器啟動的影響
溫度過低可能致使機器不能啟動。原因是低溫影響自由電子數(shù)量及電子運動速率,進一步導(dǎo)致部分器件無法正常工作。故在實際應(yīng)用中元器件按照操作溫度分軍規(guī)(-55℃~+85℃)、工規(guī)(-25℃~+70℃)、商規(guī)(0℃~+60℃)三類。器件啟動異常的臨界溫度點可以稱為極限溫度,一般低于或高于操作臨界值。
因為PNP、NPN等是元器件(芯片)的基本組成元素,故我們以升溫對三極管電流影響曲線圖為例分析,可明確溫度升高會使自由電子數(shù)量增加且運動速率加快,電流增大。溫度降低則反之,則當(dāng)自由電子數(shù)量無法滿足器件開始工作臨界條件時,機器無法啟動。
2、空氣密度下降對產(chǎn)品散熱性能影響
熱量傳遞有三種方式:熱輻射、熱傳導(dǎo)、對流傳熱。對于計算機類產(chǎn)品,三種散熱方式一般都會交疊使用,如:
1)熱輻射:機箱或器件作為熱源向空氣輻射電磁波,向空氣傳遞熱量,器件輻射的熱量開始階段依舊存在于機箱內(nèi);
2)熱傳導(dǎo):散熱片/散熱器被動散熱,器件表面熱量通過接觸面?zhèn)鲗?dǎo)給散熱器,散熱器熱輻射到空氣中;
3)熱對流:自然風(fēng)流或風(fēng)扇主導(dǎo)的強制空氣對流,機箱內(nèi)熱量通過空氣對流傳遞到機箱外空氣中;
我們可發(fā)現(xiàn)無論是熱輻射還是熱傳導(dǎo),如果熱量是傳遞到機箱內(nèi)空氣中,最終需要通過熱對流傳遞到空氣外,而熱對流需要空氣介質(zhì),就像真空中熱量只能通過熱輻射傳遞(月球有熱源時最高溫127℃,無熱源Zui低溫-183℃),空氣密度下降將導(dǎo)致同功耗情況下,對產(chǎn)品散熱效率要求更高,繼而對散熱設(shè)計提出新要求。
假如CPU的溫度在海平面的溫度為68.3度,環(huán)境溫度為35度, 可以推導(dǎo)出在海拔1500m的溫度為(68.3-35)x(1+0.00009x1500)+35=72.8度。
3、空氣密度下降對產(chǎn)品絕緣性能影響
絕緣測試有介質(zhì)強度(AC/DC,施加于回路與回路之間或回路與GND之間)、絕緣電阻(直流,施加于回路與回路之間或回路與GND之間),以這兩項測試為基準(zhǔn)分析隨空氣密度下降,產(chǎn)品絕緣性能的影響。
實驗中產(chǎn)品測試絕緣不合格的直接表現(xiàn)是漏電流超過標(biāo)準(zhǔn)要求,導(dǎo)致漏電流超標(biāo)的原因有:爬電距離不足導(dǎo)致電弧放電短路、器件耐壓性能不足導(dǎo)致被擊穿。
如下圖,藍色虛線表示PCB介質(zhì)導(dǎo)電最短路徑,紅色虛線表示電弧爬電最短路徑,對于設(shè)計定型的產(chǎn)品,由于其電氣間隙已經(jīng)固定,隨空氣壓力的降低,其擊穿電壓也下降??諝鈮毫蚩諝饷芏鹊慕档褪箍諝饨橘|(zhì)滅弧的開關(guān)電器滅弧性能降低,通斷能力下降和電壽命縮短:
a)直流電弧的燃弧時間隨海拔升高或氣壓降低而延長;
b)直流與交流電弧的飛弧距離隨海拔升高或氣壓降低而增加。
故隨海拔升高,安全間隙需要增大,參考標(biāo)準(zhǔn)UL/EN 60950-1,以2000m海拔為基準(zhǔn),系數(shù)/安全距離與海拔/氣壓之間關(guān)系
4、大氣壓降低對電容器影響
電容器按照不同的功用有十多種分類,其中按電解質(zhì)分類:有機介質(zhì)電容器、無機介質(zhì)電容器、電解電容器、電熱電容器和空氣介質(zhì)電容器等。特別對于液態(tài)電解質(zhì)電容器、空氣介質(zhì)電容器,當(dāng)海拔升高,氣壓降低:
1)電解電容的內(nèi)外部的壓力差會變大,放電電壓降低,導(dǎo)致電容器內(nèi)部的局部放電問題;
2)晝夜溫差會變大,同時內(nèi)部外部的壓力差也變大,對密封性及結(jié)構(gòu)強度要求更高,否則可能鼓包。