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快速溫變濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格:
型 號(hào) | SES-225 | SES-408 | SES-800 | SES-1000 | SES-1500 | SES-2000 |
內(nèi)箱尺寸 (W x D x H cm) | 50×60×75 | 60×80×85 | 80×100×100 | 100×100×100 | 100×100×150 | 100×110×180 |
外箱尺寸 ( W x D x H cm) | 115×125×160 | 125×145×170 | 145×195×185 | 155×225×195 | 250×125×190 | 260×135×250 |
內(nèi)箱容積 | 225L | 408L | 800L | 1000L | 1500L | 2000L |
承載重量 | 20kg | 30kg | 30kg | 50kg | 75 | 100 |
溫度速率 | 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。 | |||||
溫度范圍 | -70℃-180℃ | |||||
溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ | |||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||
溫變范圍 | -55℃~+125℃(高溫至少±85℃以上) | |||||
濕度范圍 | 20%~98% | |||||
濕度偏差 | -3~+2%R.H(75%R.H.以上),±5%R.H.(75%R.H以下) | |||||
備注 | 以上指標(biāo)是在空載,環(huán)境溫度20℃±2℃下測(cè)試 | |||||
腳輪 | 4個(gè)(外形尺寸不含腳輪)腳輪增高50~120mm | |||||
觀察窗 | 帶加熱裝置防止冷凝和結(jié)霜 | |||||
測(cè)試孔 | φ100mm位于箱體右側(cè)(人面朝大門(mén)) | |||||
照明燈 | 35W/12V | |||||
節(jié)能調(diào)節(jié)方式 | 冷端PID調(diào)節(jié)方式(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40% | |||||
加熱方式 | 電加熱(3重超溫保護(hù)) | |||||
制冷機(jī) | 德國(guó)*品牌壓縮機(jī) | |||||
制冷劑 | 環(huán)保制冷劑R404a / R23(臭氧耗損指數(shù)均為0) | |||||
冷卻方式 | 水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.1~0.3Mpa,以便確保降溫性能 | |||||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器 | |||||
運(yùn)行方式 | 程序運(yùn)行+恒定運(yùn)行 | |||||
程序容量 | 200×100可循環(huán)跳步、保持、連接 | |||||
傳感器 | PT100 | |||||
通訊功能 | RS485 標(biāo)配USB | |||||
曲線記錄功能 | 觸摸屏自動(dòng)記錄 | |||||
電源 | 380V±10%/50HZ,三相五線(3P+N+G) |
溫度試驗(yàn)是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開(kāi)展的環(huán)境試驗(yàn),但要真正做好溫度試驗(yàn),需要掌握的知識(shí)內(nèi)容很多,本文介紹溫度試驗(yàn)主要知識(shí)點(diǎn),供學(xué)習(xí)參考。
溫度對(duì)試件的影響
溫度相關(guān)試驗(yàn)是環(huán)境試驗(yàn)入門(mén),包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)主要驗(yàn)證產(chǎn)品在極值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響,是否可以正常運(yùn)作。溫度變化試驗(yàn)主要測(cè)試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。
高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:
a. 填充物和密封條軟化或融化;
b. 潤(rùn)滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤(rùn)滑作用減?。?nbsp;
c. 電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞;
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化,包括氧化、開(kāi)裂、化學(xué)反應(yīng)等;
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:
a. 使材料發(fā)硬變脆;
b. 潤(rùn)滑劑粘度增加,流動(dòng)能力降低,潤(rùn)滑作用減??;
c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
d. 水冷凝結(jié)冰;
e. 密封件失效;
f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
溫度變化條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在溫度劇烈變化時(shí)可能發(fā)生機(jī)械故障、開(kāi)裂、密封損壞、泄漏等現(xiàn)象。
溫度劇烈變化對(duì)設(shè)備的主要影響有:
a. 使部件裝配點(diǎn)或焊接點(diǎn)松動(dòng)或脫落;
b. 使材料本身開(kāi)裂;
c. 電子元器件性能發(fā)生變化;
d. 密封件失效造成泄漏;
非散熱試件和散熱試件
試件內(nèi)不產(chǎn)生熱量的為非散熱試件。在實(shí)驗(yàn)室可以采用以下較嚴(yán)格的定義:在沒(méi)有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓(86-106kPa)下,試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,試驗(yàn)樣品表面熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差小于5℃的試驗(yàn)樣品。
若環(huán)境溫度不變時(shí),非散熱試件的熱流方向如下:在環(huán)境溫度較高時(shí),熱由環(huán)境大氣傳入試件;反之,熱由試件傳入周?chē)髿?。熱傳輸過(guò)程將不斷進(jìn)行直至試件各部分的溫度均達(dá)到周?chē)髿鉁囟葹橹?。此后熱傳輸過(guò)程停止。非散熱試件的后穩(wěn)定溫度是放置試驗(yàn)樣品試驗(yàn)箱的平均溫度。
試件內(nèi)有熱量產(chǎn)生為散熱試件。較嚴(yán)格的定義為在沒(méi)有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的自由空氣條件和試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣規(guī)定的氣壓(86-106kPa)下,試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,試驗(yàn)樣品表面熱點(diǎn)溫度與環(huán)境溫度之差大于5℃的試驗(yàn)樣品。
散熱試件產(chǎn)生的熱量不斷向周?chē)h(huán)境大氣發(fā)散,直至試件產(chǎn)生的熱量與耗散在周?chē)髿庵械臒崃肯嗥胶猓嚰囟冗_(dá)到穩(wěn)定。當(dāng)環(huán)境溫度上升或下降時(shí),試件內(nèi)部的溫度也將隨著一同上升或下降,直至達(dá)到新的平衡。散熱試件的后穩(wěn)定溫度需要進(jìn)行反復(fù)測(cè)量,當(dāng)試件的溫度每變化3℃后測(cè)量其間的時(shí)間間隔,當(dāng)相鄰兩段時(shí)間間隔之比大于1.7時(shí),認(rèn)為已達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。
產(chǎn)品
對(duì)于目前的產(chǎn)品來(lái)說(shuō),在未工作狀態(tài)產(chǎn)品本身不產(chǎn)生熱量,因此在試件未工作狀態(tài)進(jìn)行的溫度試驗(yàn)都可作為非散熱試件來(lái)處理。在工作狀態(tài)進(jìn)行溫度試驗(yàn)的產(chǎn)品目前主要有燃油泵,點(diǎn)火線圈,怠速調(diào)節(jié)器等。這些產(chǎn)品如在工作條件下進(jìn)行溫度試驗(yàn)都應(yīng)作為散熱試件。特別是點(diǎn)火線圈,工作時(shí)的發(fā)熱量較大,應(yīng)對(duì)其上的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
試驗(yàn)區(qū)域空氣速度的影響
試驗(yàn)區(qū)域中空氣和試驗(yàn)樣品間的熱交換效率取決于空氣流動(dòng)的速度。
對(duì)于非散熱試件,較高的空氣流動(dòng)速度可以使試件各部分的溫度較快速的達(dá)到周?chē)諝獾臏囟取R话阍谠囼?yàn)區(qū)域未擺放試件的情況下,空氣流動(dòng)速度應(yīng)不低于2m/s。
對(duì)于散熱試件,試件樣品熱點(diǎn)的溫度高于周?chē)h(huán)境溫度時(shí),應(yīng)在無(wú)強(qiáng)迫空氣流動(dòng)(自由空氣條件)的環(huán)境下進(jìn)行試驗(yàn),否則試件的溫度將被降低,從而減小試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度。
試驗(yàn)區(qū)域中試件的擺放
多個(gè)樣品在同一試驗(yàn)箱進(jìn)行高溫實(shí)驗(yàn)時(shí),應(yīng)保證所有樣品都處在同一環(huán)境溫度下,并具有相同的安裝條件。對(duì)于散熱樣品而言,各個(gè)試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件,即試件間間隔應(yīng)足夠大,這樣對(duì)于單個(gè)試件來(lái)說(shuō),其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小,到可忽略的程度。對(duì)于非散熱試件,溫度保持不變的高溫或低溫試驗(yàn),試件間的間距可以不做要求,因?yàn)闇囟群愣ê笤嚰臏囟扰c溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度保持一致,不發(fā)生熱量交換,試件間的間距對(duì)試驗(yàn)不會(huì)產(chǎn)生影響。非散熱試件的溫度變化試驗(yàn)試件間則應(yīng)該保持間隔,使試驗(yàn)件之間有足夠的空氣流動(dòng),加速試件與溫度試驗(yàn)箱之間的熱交換,使試件盡快達(dá)到試驗(yàn)的溫度。
試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間的確定
在化學(xué)中一條常用的規(guī)律是在高溫下反應(yīng)的速度要快一些。 這一規(guī)律被應(yīng)用到技術(shù)中,以便進(jìn)行加速試驗(yàn),這也被稱(chēng)為阿侖尼斯方程。
阿侖尼斯關(guān)系從數(shù)學(xué)上的表示為:
AF(T)=e^(EA/K)*(1/T實(shí)際– 1/T試驗(yàn)室)
式中數(shù)值:
AF= 加速度系數(shù)
Ea=激活能
K=玻爾茲曼常數(shù)(8.65×10-5ev/K)
T實(shí)際=在實(shí)際負(fù)荷下的溫度
T實(shí)驗(yàn)室=在實(shí)驗(yàn)室負(fù)荷下的溫度
為確定加速度系數(shù)激活能必須是已知的,對(duì)于一般的電子元件經(jīng)常采用的值是:Ea=0.44Ev
( 在產(chǎn)品不工作時(shí)進(jìn)行的低溫或高溫實(shí)驗(yàn),試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間為試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后,根據(jù)試驗(yàn)樣品的特點(diǎn)和試驗(yàn)?zāi)康拇_定。也可從下列等級(jí)中選?。?,16,72,96h。t = t穩(wěn)定+ to (to由計(jì)算產(chǎn)生或=2,16,72,96h) 。