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可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

發(fā)布時(shí)間: 2019-11-15  點(diǎn)擊次數(shù): 2139次

高低溫快速溫變濕熱試驗(yàn)箱 技術(shù)規(guī)格:

號(hào)

SES-225

SES-408

SES-800

SES-1000

SES-1500

內(nèi)箱尺寸

(W x D x H cm)

50×60×75

60×80×85

80×100×100

100×100×100

100×100×150

外箱尺寸

( W x D x H cm)

115×125×160

125×145×170

145×195×185

155×225×195

250×125×190

承載重量

20kg

30kg

30kg

50kg

75KG

溫度速率

等均溫/平均溫5/min、10/min、15/min20/min。

溫度范圍

-70~﹢180

溫度均勻度

≤2

溫度波動(dòng)度

±0.5

溫度偏差

±2

溫變范圍

-40/-55+125(高溫至少+85以上)

濕度范圍

20%98%

濕度偏差

±3%(75%RH), ±5%(≤75%RH)

腳輪

4個(gè)(外形尺寸不含腳輪)腳輪增高50120mm

觀察窗

450×450mm帶加熱裝置防止冷凝和結(jié)霜

測(cè)試孔

φ100mm位于箱體右側(cè)(人面朝大門)

照明燈

35W/12V

節(jié)能調(diào)節(jié)方式

冷端PID調(diào)節(jié)方式(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40%

加熱方式

鎳鉻合金電熱絲(3重超溫保護(hù))

制冷機(jī)

德國(guó)*品牌壓縮機(jī)

制冷劑

環(huán)保制冷劑R404a / R23(臭氧耗損指數(shù)均為0

冷卻方式

水冷(水溫728,水壓0.10.3Mpa),以便確保降溫性能

控制器

7寸彩色觸摸屏控制器

運(yùn)行方式

程式運(yùn)行+定值運(yùn)行

傳感器

PT100

通訊功能

RS485 標(biāo)配USB

曲線記錄功能

觸摸屏自動(dòng)記錄

電源

380V±10%/50HZ,三相四線+地線(3P+N+G)

什么是HALT試驗(yàn)?
 
HALT(Highly Accelerated Life Test)的全稱是高加速壽命試驗(yàn)。HALT是一種通過(guò)施加逐級(jí)遞增的環(huán)境應(yīng)力或工作載荷,來(lái)加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點(diǎn)的試驗(yàn)方法。主要應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)階段,它能以較短的時(shí)間促使產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷暴露出來(lái),從而為我們做設(shè)計(jì)改進(jìn),提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。
 
HALT是美國(guó)Hobbs先提出并持續(xù)進(jìn)行完善,主要目的是通過(guò)增加被測(cè)物的極限值,進(jìn)而增加其穩(wěn)健性及可靠性。
 
HALT按臺(tái)階方式施加應(yīng)力,能夠盡快發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、工作極限及破壞極限。其加于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。利用該試驗(yàn)可迅速找出產(chǎn)品設(shè)計(jì)及制造的缺陷、改善設(shè)計(jì)缺陷、增加產(chǎn)品可靠性并縮短其上市周期,同時(shí)還可改進(jìn)設(shè)計(jì)、積累產(chǎn)品可靠性基礎(chǔ)數(shù)據(jù),為后續(xù)的產(chǎn)品研發(fā)提供重要依據(jù)。

HALT 的主要測(cè)試功能如下:
利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來(lái),并加以改善;
了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式;
作為高應(yīng)力篩選及稽核規(guī)格制定的參考;
快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵;
增加產(chǎn)品的可靠性,減少維修成本;
建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù),為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設(shè)計(jì)制造周期。

HALT應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。其所施加的應(yīng)力要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于產(chǎn)品在正常運(yùn)輸、貯藏、使用時(shí)的應(yīng)力。

HALT包含的如下內(nèi)容: 
1) 逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障;
2)  采取臨時(shí)措施,修正產(chǎn)品的失效或故障;
3) 繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正;
4)  重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟;找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。
 
什么是HASS試驗(yàn)?
 
HASS (High Accelerated StressScreen)的全稱是高加速應(yīng)力篩選試驗(yàn)。HASS是產(chǎn)品通過(guò)HALT得出工作極限或破壞極限值后在生產(chǎn)階段所做的高加速應(yīng)力篩選,一般要求100%的產(chǎn)品參加篩選。
 
HASS目的是為了減少產(chǎn)品的潛在缺陷,并盡量在產(chǎn)品出廠前消除這些缺陷。HASS主要是通過(guò)加速應(yīng)力方式以期在短時(shí)間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短產(chǎn)品改進(jìn)周期。
 
HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT中找到的改進(jìn)措施能夠得已實(shí)施。HASS還能夠確保不會(huì)由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動(dòng)而引入新的缺陷。

HASS包含如下內(nèi)容: 
1) 進(jìn)行預(yù)篩選,剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;
2) 進(jìn)行探測(cè)篩選,找出明顯缺陷;
3) 故障分析,改進(jìn)措施。
 
HASS 和 HALT 的區(qū)別:
 
1、階段不一樣:HALT是開發(fā)階段,HASS是生產(chǎn)早期階段,或者是生產(chǎn)階段。
 
2、目的不同:HALT試驗(yàn)是一種摸底試驗(yàn),目的是發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)的短板并改進(jìn),HASS是一種通過(guò)性試驗(yàn),是量產(chǎn)質(zhì)量控制。
 
3、強(qiáng)度不一樣:HALT試驗(yàn)可能會(huì)造成產(chǎn)品的損傷,而HASS試驗(yàn)不應(yīng)該造成產(chǎn)品的損傷,因?yàn)镠ASS試驗(yàn)之后,產(chǎn)品是需要進(jìn)行售賣的。而HALT試驗(yàn)之后的產(chǎn)品是嚴(yán)禁再出貨的。
 
4、試驗(yàn)方法不同:HALT試驗(yàn)是加速應(yīng)力,直至產(chǎn)品失效;HASS試驗(yàn)是多次重復(fù)但是無(wú)產(chǎn)品磨損,逐步修正,完成試驗(yàn)的輪廓的過(guò)程。
 
5、HALT試驗(yàn)和HASS試驗(yàn)對(duì)失效率優(yōu)化,處于器件生命周期的不同階段。

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